文物檢測(cè)新方法！

文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)

    文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)主要分為高能量CT和微焦點(diǎn)CT。CT是基于計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，對(duì)文物進(jìn)行2D，3D檢測(cè)。

其應(yīng)用主要有六個(gè)方面：

●對(duì)文物內(nèi)部結(jié)構(gòu)及形貌進(jìn)行無(wú)損掃描并分析；

●對(duì)文物的起源，制作工藝、產(chǎn)地和用途提供重要信息；

●對(duì)文物的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及尺寸進(jìn)行二維、三維的測(cè)量；

●對(duì)文物的穿孔內(nèi)壁，鑲嵌加工痕跡數(shù)據(jù)分析，及數(shù)據(jù)庫(kù)的建立；

●高精度獲取與解讀文物的三維信息，并可實(shí)現(xiàn)逆向工程；

●相位成像功能。

文物CT檢測(cè)掃描分析系統(tǒng)相對(duì)優(yōu)勢(shì)：

●開(kāi)放式微焦點(diǎn)射線管，分辨率高，檢測(cè)更。

●設(shè)備設(shè)計(jì)緊湊，配置靈活，可滿足客戶多種要求。

●運(yùn)行穩(wěn)定，安全可靠。

●掃描速度快，圖像重建速度快。