X射線輻照儀的操作模式介紹

　　X射線輻照儀在輻照食品檢測領(lǐng)域是通用的方法，適用于檢測可以分離出硅酸鹽礦物質(zhì)的食品。是由同相振蕩且互相垂直的電場與磁場在空間中以波的形式移動，其傳播方向垂直于電場與磁場構(gòu)成的平面，有效的傳遞能量和動量。電磁輻射按照頻率分類，從低頻率到高頻率，包括有無線電波、微波、紅外線、可見光、紫外光、X-射線和伽馬射線等等。
 

　　自然界中絕大多數(shù)的固體是晶體，而所有的晶體在空間結(jié)構(gòu)上都有缺陷(晶格缺陷)。輻照使礦物晶體電離，產(chǎn)生游離電子。一些游離電子被較高能態(tài)的晶格缺陷捕獲后，成為陷獲電子儲存在陷阱中。積蓄的能量在加熱過程中以光的形成釋放出來的一種物理現(xiàn)象。這種現(xiàn)象是一次性的，也就是固體在受輻射作用后，只有被加熱時才會有光被釋放出來。在以后的加熱過程中，除非重新再接受輻射作用，否則將不會有發(fā)光現(xiàn)象。X射線輻照儀正是利用晶體這一特性開發(fā)出的輻照食品檢測方法。
 

　　X射線輻照儀有兩種操作模式可以選擇：
 

　　1、篩查模式：根據(jù)設(shè)定好的閾值及時間參數(shù)，將樣品放入樣品室后只需輕輕按一下測試按鈕，15秒即可給出結(jié)果。篩查模式無需連接電腦。非常適合對常規(guī)樣品的例行快速檢測。
 

　　2、與電腦連接使用：當(dāng)與電腦連接使用時，可以通過軟件自定義測量參數(shù)(例如測量時間、閾值標(biāo)準(zhǔn)和數(shù)據(jù)記錄條件等等)，可以獲得樣品具體的光子計數(shù)，可以測定暗計數(shù)(無光刺激時樣品室的光子計數(shù)率)、空室計數(shù)(吳樣品時的計數(shù)率，以了解樣品室是否污染)，以及光電倍增管靈敏度測試等等，并可以對篩查結(jié)果不確定的樣品進行校正測定等等。